Spettrometro di emissione ottica accoppiato al plasma induttivamente - ICP OES
Strumento Perkin Elmer OPTIMA 7000 DV per analisi quantitative degli elementi in tracce degli ioni metallici in soluzioni di matrici di diverso genere. Il sistema è configurato per una visualizzazione sia radiale che assiale.
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U1; 1; 1007
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