2 camere criogeniche di test di apparati, a temperatura variabile da 4 a 350 K, interfacciate con il PNAX N5245A
Caratterizzazione di componenti e sistemi a microonde a temperatura criogenica; caratterizzazione elettromeccanica di materiali. Usato per ricerca per esperimenti per la CMB; usato per conto terzi per sistemi a terra e per satelliti.
Edificio
U1; 3; 3054
Dipartimento
Responsabile scientifico
Immagine
