Analisi delle proprietà dielettriche, ottiche e vibrazionali

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L’Ateneo offre un ampio servizio di analisi delle proprietà dielettriche, ottiche, vibrazionali, magnetiche di materiali attraverso tecniche spettroscopiche che si basano sull’interazione luce-materia. Le informazioni che si possono ottenere dipendono principalmente dal range della radiazione elettromagnetica utilizzata come sonda (dalle onde radio fino ai raggi X). Le principali sono:

  • la determinazione della percentuale della luce trasmessa o riflessa da un campione (spettroscopie UV/Vis/NIR, FTIR)
  • la determinazione dell’indice di rifrazione e spessore di film sottili e multistrato o di materiali bulk (ellissometria)
  • la risposta dielettrica di solidi (spettroscopia d’impedenza);
  • la composizione del materiale e l’identificazione di difetti e impurezze (spettroscopie FTIR, FTIR-ATR, Raman, XRF)
  • l’identificazione di fasi cristalline e amorfe nei solidi, inclusioni o strutture a bassa dimensionalità (FTIR, Raman)
  • l’individuazione di livelli emettitori, determinazione dell'efficienza quantica, tempo di vita e costante radiativa/non radiativa (luminescenza)
  • la determinazione dei processi di trasferimento di energia e loro efficienza (luminescenza)
  • lo studio dei difetti di punto in materiali isolanti (termoluminescenza) e di centri luminescenti tramite stimolazione con radiazione ionizzante (radioluminescenza)

Le analisi spettroscopiche possono essere effettuate in condizioni ambientali, in ambiente, pressione e temperatura controllati o in presenza di campi elettrici e magnetici esterni per studiare l’influenza di questi fattori sulle proprietà studiate.