Analizzatore Parametrico 4210-CVU

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Strumentazione per misure elettriche di capacità-voltaggio e corrente-voltaggio

Edificio
U5; 1; 1097
Dipartimento
DIPARTIMENTO DI SCIENZA DEI MATERIALI
Responsabile scientifico

FANCIULLI MARCO

Voci tariffario
G.1; G.2
https://drive.google.com/file/d/1o51rs7Cp8_m6obTxgsMaLGSE7B093iut/view?usp=shar…
Sito tariffario
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Pubblicazioni

  • Pulici, A; Kuschlan, S; Seguini, G; Taglietti, F; Fanciulli, M; Chiarcos, R; Laus, M; Perego, M (2023) Electrical characterization of thin silicon-on-insulator films doped by means of phosphorus end-terminated polymers. Dettaglio