Analizzatore Parametrico 4210-CVU
Strumentazione per misure elettriche di capacità-voltaggio e corrente-voltaggio
Edificio
U5; 1; 1097
Dipartimento
Responsabile scientifico
Voci tariffario
Sito tariffario
Immagine
Pubblicazioni
- Pulici, A; Kuschlan, S; Seguini, G; Taglietti, F; Fanciulli, M; Chiarcos, R; Laus, M; Perego, M (2023) Electrical characterization of thin silicon-on-insulator films doped by means of phosphorus end-terminated polymers. Dettaglio