Combined MA-XRF and total reflectance spectroscopy scanner

Strumento per misure in situ combinate in scansione di spettroscopia di fluorescenza a raggi X e di spettroscopia Vis-NIR in riflessione. La spettroscopia di fluorescenza a raggi X a scansione (MAXRF) consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree sulla superficie di un manufatto in modo non invasivo. In modo analogo l’analisi in scansione mediante spettroscopia Vis-NIR in riflessione consente l’acquisizione di immagini iperspettrali in un ampio intervallo spettrale (400-2500nm) che forniscono informazioni sia sulla distribuzione e che sulla natura chimica di pigmenti e, in generale, di componenti inorganiche (bande elettroniche, bande vibrazionali armoniche e di combinazione), e di componenti organiche (bande vibrazionali armoniche e di combinazione dei materiali organici naturali e sintetici) presenti sulla superficie indagata. In IRIS l’informazione ottenuta dalle due tecniche viene raccolta in modo combinato per ogni punto della superficie scansionata integrando l’informazione chimica elementare con quella molecolare.