Questa sezione presenta una panoramica delle principali infrastrutture scientifiche disponibili presso l’Università degli Studi di Milano-Bicocca. Le attrezzature per la ricerca elencate, corredate di informazioni fornite dai docenti responsabili di ciascuna strumentazione, sono estratte da IRIS-BOA, la piattaforma che raccoglie e gestisce le informazioni relative ai dati della ricerca.
Strumenti cruciali per lo sviluppo e l'innovazione scientifica, le attrezzature sono messe a disposizione per attività di ricerca avanzata e collaborazione scientifica, sia all'interno dell'ateneo sia con partner esterni e rappresentano una risorsa essenziale per ricercatori, studenti e aziende interessate a sfruttare le tecnologie e i servizi offerti dall'università.
Sei un’impresa?
Consulta la sezione dedicata ai servizi scientifici e tecnologici per le imprese, dove troverai, classificate per tematiche, le strumentazioni che possono fornire servizi per esterni.
Attrezzature per la ricerca
Operetta CLS
Operetta® CLS™ è un sistema di analisi High-Content, una piattaforma di imaging per micropiastre ad alta processività per l’analisi di
immagine e la generazione di dati quantitativi.
Osservatorio Open Government Data
L’Osservatorio Open Data si occupa della gestione, trasformazione e distribuzione dei dati alla comunità scientifica. L’Osservatorio è anche il luogo all’interno del quale aprire una linea di riflessione sull’epistemologia degli Open Data, interrogandosi sul tipo di conoscenza che si può generare attraverso il loro utilizzo.
Pc fissi ad alte prestazioni adatti al rendering degli ambienti di realtà virtuale (VR) in tempo reale
3 Workstation ad alte prestazioni per il rendering degli ambienti di realtà virtuale (VR) in tempo reale:
1 Workstation HP OMEN X - processore Intel i7, scheda video Nvidia GeForce 1080
1 Workstation HP OMEN 30L - processore Intel i9, scheda video Nvidia GeForce RTX 3070
1 Workstation HP OMEN 30L - processore Intel i7, scheda video Nvidia GeForce RTX 3070
Phenotyper and EthoVision Software NOLDUS INFORMATION TECHNOLOGY B.V.
Sistema di monitoraggio del comportamento del topo che permette una fenotipizzazione completamente automatizzata e direttamente nella gabbia di stabulazione. Il sistema è sviluppato per analizzare un gran numero di comportamenti murini, inclusi parametri locomotori, tempo di attività/riposo, comportamenti ripetitivi, tempo speso per alimentarsi e l'interazione sociale tra più animali. L'automatizzazione del sistema permette di svolgere le analisi senza apportare alcun stress all'animale anche in modo longitudinale, sia nella fase di buio, che di luce.
Piattaforma chromium controller
Piattaforma chromium controller per la generazione di librerie NGS per analisi di trascrittomica a singola cellula (scRNA) ed ATAC-Seq (scATAC).
Polisonnigrafo ComLab con Cyber Gloves
Sistema per la registrazione dei segnali elettrofisiologici al variare degli stati di coscienza
Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica
Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Pressa GDS
Pressa da 250kN per compressione monoassiale e triassiale di campioni di roccia
Probe Station Form Factor Summit 200, interfacciata con il PNAX N5245A
Caratterizzazione di semiconduttori e dispositivi a semiconduttore da DC a 110 GHz
Profilometro a stilo Dektak 8 (Digital Instruments, Veeco)
Il profilometro a stilo Dektak 8 offre una ripetibilità di 7.5 angstrom e 1 sigma per una misurazione precisa dell'altezza di gradini con spessore da meno di 100 angstrom a 262 micron. L'opzione N-Lite permette allo stilo di applicare una forza minima di 0.03 mg (15 mg max), ottimale per la misurazione di film delicati come quelli polimerici. E' possibile misurare la rugosità sia lineare che di superficie (con elaborazione di mappe 3D) con elevata precisione, da superfici molto lisce (meno di 10 Å Ra) a superfici molto ruvide (rugosità di diverse centinaia di micron). Dimensione massima del wafer 20 mm di diametro, spessore massimo del campione 25.4 mm, lunghezza massima di scansione 50 mm, risoluzione verticale 1 Å max. Due stili disponibili, con diametro della punta di 2.5 e 12.5 micron (compatibile con stili di molte altre misure, anche submicrometrici). Per maggiori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/