I gruppi e laboratori di ricerca dell’Ateneo sono in grado di fornire analisi dettagliate sulle proprietà fisiche e chimiche delle superfici e delle interfacce, fornendo un prezioso supporto per lo sviluppo di nuovi prodotti e processi, il controllo qualità e la diagnosi di problemi superficiali.
Le principali tecniche disponibili sono la microscopia (ottica, a sonda, elettronica), la profilometria e la nanotribometria. In particolare:
- la microscopia ottica consente di ottenere immagini con risoluzione spaziale fino al micrometro (o inferiore nel caso di microscopia confocale); nel caso di microscopi accoppiati con apparati spettroscopici (Raman, FTIR, fotoluminescenza) è possibile identificare la presenza di difetti, impurezze, inclusioni, fasi cristalline e amorfe;
- la microscopia elettronica a scansione (SEM, Scanning Electron Microscopy) è una tecnica di imaging ad alta risoluzione (fino al nanometro) che permette di studiare una vasta gamma di proprietà della superficie, tra cui rugosità, morfologia, composizione chimica e proprietà meccaniche di campioni di varia natura, inclusi materiali nanostrutturati e biologici;
- la profilometria consente di ottenere informazioni sulla rugosità della superficie con risoluzione verticale dell’ordine del nanometro e risoluzione laterale del micrometro;
- la microscopia a scansione di sonda (SPM) è una famiglia di tecniche che consente di ottenere informazioni sulla morfologia della superficie (rugosità e topografia), ma anche mappe superficiali di diverse proprietà fisiche (elastiche, magnetiche, elettriche, ecc…); la risoluzione laterale può essere inferiore al nanometro e quella verticale può raggiungere la risoluzione atomica;
- la nanotribometria consente di misurare la resistenza al rotolamento e al trascinamento di materiali su superfici e quindi permette di ottenere una misura dell’attrito.
