L'Ateneo offre un servizio completo di analisi delle proprietà morfologiche dei solidi utilizzando le principali tecniche non distruttive quali microscopia (ottica, a sonda, elettronica), profilometria e microtomografia a raggi X. La risoluzione spaziale raggiungibile così come la tipologia di informazioni che può essere ottenuta dipende dalla tecnica utilizzata. In particolare,
- la microscopia ottica consente di ottenere immagini con risoluzione spaziale fino al micrometro (o inferiore nel caso di microscopia confocale); nel caso di microscopi accoppiati con apparati spettroscopici (Raman, FTIR, fotoluminescenza) è possibile identificare la presenza di difetti, impurezze, inclusioni, fasi cristalline e amorfe;
- la microscopia elettronica a scansione (SEM) e la microscopia elettronica a trasmissione (TEM) sono tecniche di imaging ad alta risoluzione (nel caso di TEM, anche inferiore al nanometro) utilizzate per lo studio della morfologia 2D e/o 3D di campioni di varia natura, inclusi materiali nanostrutturati e biologici; se opportunamente configurate, SEM e TEM possono fornire informazioni composizionali e strutturali;
- la profilometria consente di ottenere la morfologia della superficie con risoluzione verticale dell’ordine del nanometro con risoluzione laterale del micrometro;
- la microscopia a scansione di sonda (SPM) è una famiglia di tecniche che consente di ottenere informazioni sulla morfologia della superficie (rugosità e topografia), ma anche mappe superficiali di diverse proprietà fisiche (elastiche, magnetiche, elettriche, ecc…); la risoluzione laterale può essere inferiore al nanometro e quella verticale può raggiungere la risoluzione atomica;
- la microtomografia a raggi X consente di analizzare la morfologia di campioni di forme regolari e irregolari con risoluzione massima di 7 micrometri ed è applicabile a rocce, terreni e anche a manufatti.
